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24 Ausschreibungen (Seite 1 von 2)
Hochgradient-Wirbelstromscheider
Masseaufbereitungsstrecke für (metallo-)keramische Filamente und Granulate
Versuchsanlage zur Agglomeration
Querstromzerspaner
Granulator
Schneidmühle
Strangpresse
Top Blown Rotary Converter
Belieferung Methanol
Feldemissionsrasterelektronenmikroskop
Feldemissionsrasterelektronenmikroskop
Röntgendiffraktometer
Röntgendiffraktometer
Feldemissionsrasterelektronenmikroskop
Der Auftraggeber Technische Universität Bergakademie Freiberg, Akademiestraße 6, 09599 Freiberg, Deutschland gibt in dem Vergabeverfahren mit der Vergabenummer 055-2025L zu der am 22.10.2025 09:08 Uhr auf www.evergabe.de (Vergabe-ID: 3275231) veröffentlichten Bekanntmachung mit dem Titel "IR-Kamera" folgende Berichtigung bekannt: Die Angebotsfrist wird auf den 18.11.2025 verlängert. Labortechnik/ Messtechnik,Optische Geräte
Der Auftraggeber Technische Universität Bergakademie Freiberg, Akademiestraße 6, 09599 Freiberg, Deutschland gibt in dem Vergabeverfahren mit der Vergabenummer 056-2025L zu der am 24.10.2025 06:54 Uhr auf www.evergabe.de (Vergabe-ID: 3276485) veröffentlichten Bekanntmachung mit dem Titel "Laborreaktorsysteme" folgende Berichtigung bekannt: Die Angebotsfrist wird auf den 20.11.2025 verlängert. Labortechnik/ Messtechnik
a) Zur Angebotsabgabe auffordernde Stelle: Name des Auftraggebers: Technische Universität Bergakademie Freiberg; Bereich/Abteilung: Zentrale Beschaffung; Straße, Hausnummer: Akademiestraße 6; Postleitzahl: 09599; Ort: Freiberg; Land: Deutschland; E-Mail: ausschreibung@zuv.tu-freiberg.de; Internetadresse: https://tu-freiberg.de; Den Zuschlag erteilende Stelle: s.o.; Stelle, bei der die Angebote oder Teilnahmeanträge einzureichen sind: s.o. b) Vergabeart: Öffentliche Ausschreibung c) Form, in der Teilnahmeanträge oder Angebote einzureichen sind: Angebote können nur schriftlich abgegeben werden. d) Art und Umfang der Leistung: Der Halbleiter-Parameteranalysator soll dazu dienen nano- und quantenelektronische Testbauelemente wie bspw. Halbleiter-Nanodraht-Transistoren zu charakterisieren. Dazu werden nanostrukturierte Halbleiter-Teststrukturen in einem speziellen Elektronenstrahllithographie-System in-situ mit Hilfe von Nanomanipulatoren kontaktiert und ihre elektrischen Eigenschaften charakterisiert. Dafür wird ein Parameteranalysator benötigt, der Strom-Spannungs-Messungen (bspw. Source-Drain-Strom vs. Source-Drain-Spannung oder vs. Gate-Spannung sowie Gate-Leckströme) mit sehr hoher Messauflösungen durchführen kann. Alle Komponenten des Halbleiter-Parameteranalysator sollen dabei in einem Gerät integriert und über ein integriertes großformatiges Display und ein graphisches Nutzer-Interface steuerbar sein. Zur automatisierten Abarbeitung von Messprotokollen sowie zur automatischen Auswertung von Kenngrößen aus den Messdaten, muss die Möglichkeit zur Programmierung von Routinen gegeben sein.; Orte der Leistungserbringung: Postleitzahl: 09599; Ort: Freiberg; Land: Deutschland e) Ggf. Anzahl, Größe und Art der einzelnen Lose: entfällt, da keine losweise Vergabe f) Nebenangebote sind nicht zugelassen g) Ausführungsfrist: Beginn: nicht angegeben; Ende: 30.06.2026 h) Die Vergabeunterlagen werden auf der Vergabeplattform evergabe.de bereitgestellt. i) Angebotsfrist: 02.12.2025, 11:00 Uhr; Bindefrist: 31.12.2025 j) Höhe etwa geforderter Sicherheitsleistungen: nicht angegeben k) Wesentliche Zahlungsbedingungen oder Angabe der Unterlagen, in denen sie enthalten sind: siehe Anlage 2 §3 und Anlage 5 Nr. 6 der Ausschreibungsunterlagen l) Mit dem Angebot oder dem Teilnahmeantrag vorzulegenden Unterlagen, die die Auftraggeber für die Beurteilung der Eignung des Bewerbers oder Bieters verlangen: Anlage 3: Eignungsprüfung; Anlage 4: Erklärung zur Weitergabe von Leistungen; Nachweis über die Eintragung in das Berufs- oder Handelsregister bzw. in die Handwerksrolle (oder gleichwertigen Nachweis) aus dem jeweiligen Mitgliedstaat, nicht älter als 6 Monate zum Zeitpunkt des Angebotsfristendes; Nachweis einer entsprechenden gültigen Betriebs- bzw. Berufshaftpflichtversicherung in Form einer Bestätigung durch die Versicherung m) Kosten für Vervielfältigungen der Vergabeunterlagen: entfällt n) Angabe der Zuschlagskriterien, sofern diese nicht in den Vergabeunterlagen genannt werden: entfällt, siehe Vergabeunterlagen Labortechnik/ Messtechnik
Elektronenstrahllithographie- und Nanodraht-Charakterisierungs-System eLINE Plus
Compute-Cluster
Schneidmühle
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